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      GUT數(shù)字IC測(cè)試儀

      Loop 測(cè)試
自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能
開機(jī)自我偵測(cè)診斷功能
過(guò)載保護(hù)功能
可量測(cè)之 IC 種類超過(guò) 1800 種
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
最大可測(cè) Pin 數(shù) : 28 Pin
      生產(chǎn)廠商: 北京迪陽(yáng)公司 產(chǎn)品型號(hào): GUT6000A
      產(chǎn)品簡(jiǎn)介: Loop 測(cè)試 自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能 開機(jī)自我偵測(cè)診斷功能 過(guò)載保護(hù)功能 可量測(cè)之 IC 種類超過(guò) 1800 種 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS 最大可測(cè) Pin 數(shù) : 28 Pin
      Loop 測(cè)試
      自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能
      開機(jī)自我偵測(cè)診斷功能
      過(guò)載保護(hù)功能
      可量測(cè)之 IC 種類超過(guò) 1800 種
      54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
      4000 及 4500 系列 CMOS
      最大可測(cè) Pin 數(shù) : 28 Pin
      測(cè)試范圍
      54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
      4000 及 4500 系列 CMOS
      55 及 75 系列 TTL
      量測(cè)種類
      約 1800 種
      測(cè)試電壓
      5V DC
      測(cè)試時(shí)間
      高測(cè)試速度,平均 0.8 秒可完成一個(gè) IC
      使用電源
      交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
      附件
      電源線 x 1, 操作手冊(cè) x 1
      尺寸及重量
      335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm, 約 1.5 公斤
      固緯IC測(cè)試儀選型表

      機(jī) 種
      主要功能或用途
      GUT - 6000A
      數(shù)位IC測(cè)試器
      GUT - 6600
      掌上型數(shù)位IC測(cè)試器
      GUT - 6001
      類比IC測(cè)試器
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